Szukaj
Twój koszyk : Do zapłaty 0,00 zł Ilość w koszyku: 0

Graficzne zintegrowane środowiska programowe do projektowania komputerowych systemów pomiarowo-kontrolnych

Jacek Nowak, Sławomir Stanik, Wiesław Winiecki
Nr katalogowy:64534
Liczba stron:280
Wymiary:17 x 24 cm
Wydawnictwo:Mikom
Oprawa:miękka

Czas dostawy:

produkt chwilowo niedostępny
Do koszyka
Do schowka
Cena detaliczna: 34,60 zł
Twoja cena: 30,80 zł
(rabat: 11%)






W książce zawarto analizę zintegrowanych środowisk pomiarowych - LabWindows/CVI, LabVIEW (National Instruments), VEE (Hewlett Packard/Agilent), TestPoint (Keithley Instruments), DasyLab (DASYTEC) oraz zintegrowanych środowisk automatyki przemysłowej - BridgeVIEW, Lookout (National Instruments), GeniDAQ (Advantech). Przedstawiono metodykę projektowania systemów, a w zakresie środowisk pomiarowych dokonano ich eksperymentalnej weryfikacji. Książka ukazuje możliwości, jakie posiadają dzisiejsze graficzne, zintegrowane środowiska programowe, zarówno pomiarowe, jak i automatyki przemysłowej. Podejmuje próbę oceny jakościowej badanych środowisk oraz wskazuje na problemy mogące wyłonić się w procesie projektowania systemów pomiarowych.


WykopGaduGaduFacebookTwitterBlipGrono.netŚledzik (nk)FlakerDelicious


Zobacz inne produkty z kategorii - Inżynieria oprogramowania

Metodologia i techniki programowania
Malina Witold, Szwoch Mariusz

Cena: 13,30 zł

Excel. Programowanie dla profesjonalistów. Wydanie II
Dennis Wallentin, John Green, Rob Bovey, Stephen Bullen

Cena: 132,60 zł

Drupal 7. Zaawansowane programowanie. Wydanie III
John K. VanDyk, Todd Tomlinson

Cena: 70,30 zł
Jak zamawiać | Kontakt | Regulamin | Koszyk | Mapa kategorii | Mapa produktów | Zobacz strony | Tagi | Ciekawe | Newsy | Księgarnie w Warszawie: księgarnie internetowe Warszawa - książki, księgarnie internetowe, internetowa księgarnia wysyłkowa. Księgarnia Warszawa pl / Graficzne zintegrowane środowiska programowe do projektowania komputerowych systemów pomiarowo-kontrolnych / Księgarnia internetowa Warszawa / W książce zawarto analizę zintegrowanych środowisk pomiarowych - LabWindows/CVI, LabVIEW (National Instruments)